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SICK révolutionne l'automatisation industrielle en proposant des solutions de capteurs virtuels basées sur NVIDIA Omniverse.
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SICK révolutionne l'automatisation industrielle en proposant des solutions de capteurs virtuels basées sur NVIDIA Omniverse.
SICK révolutionne l'automatisation industrielle en proposant des solutions de capteurs virtuels basées sur NVIDIA Omniverse.
6 mai 2024
L'automatisation industrielle subit une transformation avec l'avènement du métavers industriel, un environnement virtuel en 3D conçu pour la conception, l'essai et la formation de l'intelligence artificielle (IA) de perception. Cette évolution est nécessaire à la numérisation avancée des industries. Les technologies de numérisation remodèlent les chaînes de valeur et favorisent une collaboration sans précédent en interopérant avec l'écosystème plus large des outils de conception 3D. La simulation dans ces environnements virtuels jouera un rôle essentiel dans cette transformation, en fournissant un banc d'essai puissant pour la formation, les tests et la validation avant le déploiement dans le monde réel.
Grâce à ces capacités, SICK offre à ses clients le meilleur service et la meilleure expérience de conseil possibles. SICK exploite ces opportunités émergentes pour créer des services et des applications plus intelligents afin de soutenir les cas d'utilisation des clients tels que la simulation d'application.
Imaginez la possibilité de confirmer la fonctionnalité d'un système de dépalettisation robotisé, par exemple, avant toute interaction physique avec un capteur dans le monde réel. Imaginez que vous puissiez évaluer si le robot s'acquitte correctement de ses tâches en fonction du modèle spécifique de votre robot et de la configuration unique de votre entrepôt. SICK a conçu une simulation virtuelle immersive qui permet cette évaluation précise dans un scénario de dépalettisation utilisant trois technologies de capteurs avancées : microScan3, safeVisionary2 et PALLOC-VS.
Les capteurs SICK disponibles dans des environnements virtuels
Cette initiative est un pas en avant vers la numérisation industrielle. Grâce aux technologies de simulation avancées de NVIDIA, telles que la plate-forme NVIDIA Isaac Sim basée sur NVIDIA Omniverse, SICK peut démontrer, émuler et affiner ses solutions dans un environnement virtuel. Cette méthode accélère considérablement l'exploration et la personnalisation des solutions pour les clients, fournissant des résultats sur mesure avec une efficacité remarquable.
NVIDIA Omniverse - plate-forme d'interfaces de programmation d'applications, de kits de développement logiciel et de services pour intégrer l'Universal Scene Description (OpenUSD) et les technologies de rendu NVIDIA RTX - agit comme un pont qui rapproche les concepts abstraits de la numérisation industrielle immersive de la réalité. SICK s'appuie sur Omniverse pour exploiter le rendu basé sur la physique et les technologies telles que le ray tracing en temps réel afin de développer des solutions complètes pour une nouvelle ère de collaboration, de visualisation de solutions et plus encore, ouvrant la voie à la simulation accélérée par le GPU de capteurs basés sur la lumière dans des environnements dynamiques et réels en temps réel.
L'intégration de la bibliothèque RTX LiDAR dans NVIDIA Isaac Sim a permis à SICK de virtualiser son portefeuille LiDAR. Isaac Sim est un simulateur robotique extensible qui permet à l'utilisateur de concevoir, de tester et d'entraîner des robots basés sur l'IA, et bientôt, les modèles de capteurs virtuels de SICK seront partagés avec la communauté des utilisateurs d'Isaac Sim. Dans la prochaine version d'Isaac Sim, les utilisateurs auront accès à un ensemble de capteurs - multiScan136, picoScan150, TiM781 et microScan3 - qui faciliteront l'expérimentation et l'innovation dans diverses applications. Aujourd'hui, SICK travaille avec NVIDIA pour exploiter les API NVIDIA Omniverse Cloud récemment annoncées pour distribuer les modèles de capteurs SICK virtualisés. Cela permettra aux utilisateurs d'intégrer facilement les capacités de simulation de capteurs dans leurs flux de travail et leurs applications.
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